概念
性能比(Performance Ratio,PR)
性能比(PR)衡量太陽能電廠原本可發出的電能中,有多少比例實際轉換為電力。公式依據 IEC 61724-1,並附智利實例。
概念
衰減是太陽能板功率隨年份逐漸且永久下降的現象。被引用最多的 NREL 回顧研究,彙整了四十年間近 2,000 筆現場量測數據,中位數為每年 0.5%。它與髒污不同(髒污可透過清潔恢復),也不同於只影響個別板件的故障。
重點摘要
NREL 的 Dirk Jordan 與 Sarah Kurtz 檢視了 40 年現場試驗所公布的衰減率。從近 2,000 筆量測數據中,他們得出每年 0.5% 的中位數,以及 0.8% 的平均值。兩者的差距說明了一件事:多數太陽能板老化緩慢,但少數衰減得相當快。
智利現有的數據較高。在 Santiago,Fraunhofer Chile 與 Universidad Católica 於 2014 至 2015 年間進行的研究,在其測試陣列中量測到:
| 技術 | 量測到的年衰減率 |
|---|---|
| 多晶矽 | 1,29 % |
| 單晶矽 | 1,74 % |
| 薄膜 | 2,77 % |
兩年是量測衰減的短期間,而且太陽能板前幾年的損失通常最大。儘管如此,這些數字是在智利實測得出的,審視 25 年發電預測時宜留意。
| 機制 | 說明 |
|---|---|
| 光致衰減(LID) | 照光最初數小時至數週內的初期損失 |
| 電位誘發衰減(PID) | 高電壓串列中,電池片與框架之間的漏電流 |
| 微裂紋 | 電池片裂痕,隨時間使碎片被隔離 |
| 封裝膠變色 | 保護電池片的材料受紫外線照射而變暗 |
| 分層與濕氣 | 膜層分離,使水氣滲入並腐蝕接點 |
| 背板失效 | 裂紋使帶電部位外露 |
高溫、紫外線與溫差幾乎會加速所有機制。因此智利北部是嚴苛的環境,也正是 AtaMoS-TeC 這類聯盟存在的原因。
混淆兩者會導致代價高昂的決策:更換只是髒污的太陽能板,或把仍在保固期內的故障,當成「正常衰減」而接受。
太陽能板有 2 種不同的保固。產品保固涵蓋製造缺陷。績效保固則保證在長期內功率不會低於某一百分比,通常是第 1 年的最大損失,加上之後固定的衰減斜率。確切數值載於各製造商的保固證書,應在購買前詳讀,而非在申請理賠時才看。
常見問題
依 Jordan 與 Kurtz(NREL)的回顧,已公布的現場量測中位數為每年 0.5%。在 Santiago 進行的一項為期 2 年研究,數值較高,依技術不同,介於每年 1.29% 至 2.77% 之間。
太陽能板沒有固定的使用期限:只要不故障,就會持續發電,只是每年發電量略為減少。製造商的績效保固通常涵蓋 25 年或更久。
透過量測。績效稽核會比較實際發電量與預期值、排除髒污與故障,並以 I-V 曲線量測一組樣本串列的功率。
來源
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概念
性能比(PR)衡量太陽能電廠原本可發出的電能中,有多少比例實際轉換為電力。公式依據 IEC 61724-1,並附智利實例。
概念
電致發光是讓太陽能板在紅外線波段發光,以拍攝肉眼看不見的微裂紋與失效電池片。
指南
要申請太陽能板保固,須先判斷適用哪一種保固,排除髒污與遮蔭,量測故障,並以書面提出。